低溫環(huán)境試驗特點：

　　采用圓弧造型及霧面線條處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無反作用把手，操作容易，可靠;

　　全封閉結(jié)構(gòu)，采用強(qiáng)力循環(huán)馬達(dá)，低嗓音冷凍裝置;

　　附有防震臺墊，使得機(jī)臺在運轉(zhuǎn)過程中能保持安靜及穩(wěn)定;

　　具有被測試件通電測試功能(負(fù)載測試);

　　采用飛利浦照明窗口燈、內(nèi)置耐高溫除霧裝置，便于觀察箱內(nèi)產(chǎn)品試驗情況;

　　具有多種保護(hù)裝置，性能可靠。

　　低溫環(huán)境試驗參照標(biāo)準(zhǔn):

　　GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》的要求;

　　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB2423.2-89(IEC68-2-2);

　　GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法;

　　GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法;

　　GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗;

　　GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》;

　　GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》;

《所發(fā)布的各款試驗設(shè)備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準(zhǔn)》